GOM konferencija: Optical Metrology 2010

Optical Metrology 2010 je međunarodna konferencija o integraciji optičkog mjeriteljstva u industriji i istraživanjima. Ovaj sastanak je platforma za razmjenu iskustava menedžera, mjeritelja i stručnjaka s područja tehnologija i istraživanja o mjerenim rješenjima i aplikacijama GOM optičkih mjernih sustava.

Optical Metrology 2010 podijeljena je u dvije odvojene cjeline:

• Mjerenje deformacija u ispitivanju materijala i konstrukcija te trodimenzionalna analiza kretanja

  20.09 do 21.09.2010

• Digitalizacija u kontroli kvalitete, nadzoru i reverzibilnom inženjerstvu

  22.09 do 23.09.2010

Konferencija će se održati u Braunschweigu. Jezik konferencije je engleski.

GOM redovito organizira međunarodne konferencije već više od 10 godina. Na njima sudjeluju sudionici iz automobilske, zrakoplovne I elektroenergetske industrije, proizvodnje raznih proizvoda široke potrošnje, istraživačkih centara i sveučilišta, te dobavljači. Konferencija pruža sudionicima priliku za razmjenu ideja i znanja s kolegama iz sličnih iIi različitih industrija, upoznavanje novih tehnologija i unapređenje proizvodnih procesa.

Za više informacija i registraciju molimo posjetite:

www.gom-conference.com .